v|tome|x L 240 —— 高分(fēn)辨率微焦点计算机断层扫描(micro ct)系统，用(yòng)于如大型铸件，焊接接缝，電(diàn)子设备和更多(duō)的三维计算机断层扫描和二维无损X射線(xiàn)检测。

v|tome|x L 450 —— 多(duō)功能(néng)高分(fēn)辨率微焦点系统，用(yòng)于二维和三维计算机断层扫描(micro ct)和二维无损X射線(xiàn)检测 花(huā)岗岩底座，可(kě)以处理(lǐ)大样本，并具有(yǒu)极高精度。该系统是用(yòng)于无效和缺陷检测和铸件的三维测量（如首件检测）...