x|aminer

来源:英华检测发布时间：2016-12-20 浏览次数：5331

phoenix x|aminer

——— 一款操作简便的入门级X射線(xiàn)检测系统, 具有(yǒu)高性能(néng)的微焦点无损检测设备,

专為(wèi)半导體(tǐ)封装, 電(diàn)子元器件和電(diàn)子组装等领域高分(fēn)辨率检测要求而设计. 现配备了新(xīn)型CMOS平板探测器, 比图像增强器具有(yǒu)更好的信噪比, 清晰度和实时成像能(néng)力, 并可(kě)选CT功能(néng). 系统提供了功能(néng)强大和易用(yòng)性好的phoenix x|act base二维软件和 datos|x base CT软件, 并允许手动检测和编程自动检测
特点与益处

主要特点和益处

无使用(yòng)寿命限制160kV/20W高功率X射線(xiàn)管, 易于穿透高吸收性工件
可(kě)选高对比度CMOS平板探测器, 有(yǒu)更好的实时检测能(néng)力
CT软件模块, 操作简单快速
设计人性化和操作简便易用(yòng)
可(kě)实时CAD数据匹配
自动实时导航图功能(néng), 易于对样品的上下表面和内部进行快速定位
激光防碰撞设计以保护工件
占地面积小(xiǎo)

应用(yòng)

安装好的印刷電(diàn)路板

µBGA的二维X射線(xiàn)图像

電(diàn)力電(diàn)子器件

将功率半导體(tǐ)元器件的表面焊接到陶瓷基板上。在穿过3毫米厚的铜制散热器后，基板上可(kě)见空洞，半导體(tǐ)的焊点无空洞。甚至连细铝焊線(xiàn)也可(kě)看见。

半导體(tǐ)与其他(tā)電(diàn)子元件

在任何时间通过任何检测角度通过实时CAD数据匹配得到实时影像

CT 图像

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microme|x[2016-12-20]
phoenix microme|x —— 高分(fēn)辨率的微焦点X射線(xiàn)检测系统，主要设计用(yòng)于焊点和電(diàn)子元件的实时X射線(xiàn)检测它将高分(fēn)辨率的二维X射線(xiàn)技术和计算机断层扫描结合在一个系统中，同时具有(yǒu)创新(xīn)的功能(néng)。多(duō)功能(néng)、易于使用(yòng)的phoenix microme|x 提供了出色的图像质量，可(kě)以用(yòng)于故障分(fēn)析实验室以及生产車(chē)间。它配备了phoenix|X射線(xiàn)专有(yǒu)的图像处理(lǐ)软件，用(yòng)于PCB装配的自动检测，提供更高的缺陷覆盖率，同时提高了生产效率。
X-cube[2016-12-21]
seifert x-cube 高度多(duō)功能(néng)的160kV放射镜检测系统，用(yòng)于现场测试和各种小(xiǎo)试样的小(xiǎo)系列检测，包括轻金属铸件、钢构件、塑料、陶瓷和特种合金。该系统的设计在应用(yòng)中具有(yǒu)很(hěn)大的灵活性，如生产、进货检测、故障分(fēn)析或研究和开发。凭借其集成的图像增强系统-Seifert VISTAPLUS-，标准版的可(kě)编程系统可(kě)提供快速和好品质的检测。它可(kě)以处理(lǐ)重型及大型的测试样品，且可(kě)以快速对其进行装卸。易于对经验证的图像增强系统进行操作与编程，有(yǒu)助于用(yòng)户准确保存并做出正确的检测决定。
nanome|x[2016-12-20]
phoenix nanome|x —— 超高分(fēn)辨率的纳米焦点X射線(xiàn)检测系统，设计用(yòng)于检测半导體(tǐ)及SMT行业的高品质的组件和互连该系统具有(yǒu)良好的性能(néng)和多(duō)功能(néng)性，可(kě)用(yòng)于二维X射線(xiàn)检测，以及全三维计算机断层扫描(nano ct)。有(yǒu)了新(xīn)的 x|act 软件包， phoenix nanome|x是可(kě)选的系统，用(yòng)以确保满足目前和未来的零缺陷要求。